سیمی کنڈکٹر ٹیکنالوجی کی تیز رفتار ترقی کے ساتھ-خاص طور پر انٹیگریٹڈ سرکٹس (ICs) کی مسلسل چھوٹی کاری-روایتی برقی جانچ کے طریقوں کو اعلی-تعدد اور اعلی-پریسن ایپلی کیشنز میں اہم چیلنجوں کا سامنا ہے۔ ان مسائل کو حل کرنے کے لیے، سیمی کنڈکٹر پروب سٹیشنوں کے لیے آپٹیکل انسپیکشن ٹیکنالوجی ٹیسٹنگ کی درستگی، رفتار اور بھروسے کو بڑھانے کے لیے ایک اہم آلے کے طور پر ابھری ہے۔
آپٹیکل انسپیکشن ٹکنالوجی کا انضمام نہ صرف پروب اسٹیشنوں کے لیے زیادہ موثر ٹیسٹنگ حل پیش کرتا ہے بلکہ چپس کے غیر-رابطے، اعلی-ریزولوشن کی سطح کے تجزیہ اور خرابی کی تشخیص کو بھی قابل بناتا ہے، اس طرح سیمی کنڈکٹر پیکیجنگ، آئی سی ڈیزائن، مینوفیکچرنگ، کوالٹی کنٹرول میں نمایاں طور پر پیش رفت ہوتی ہے۔
